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手持式X荧光光谱仪

  • 型   号:S1 TURBO
  • 价   格:1

S1 TURBOSD 手持式X荧光光谱仪是世界*台配置了硅漂移探测器(SDD)的手持X射线荧光光谱仪,检测器能量分辨率高达140eV,大幅度地提高了分析速度和灵敏度。能够在空气模式下,无需真空或氦气冲洗即可测量铝合金中的Mg、Si,镍合金中的Al以及钢材中的Si、S、P。

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型号:S1 TURBOSD

 

               轻元素测量首选

S1 TURBOSD手持式X荧光光谱仪是世界*台配置了XFlash®硅漂移探测器(SDD)的手持X射线荧光光谱仪,检测器能量分辨率高达140eV,大幅度地提高了分析速度和灵敏度。能够在空气模式下,无需真空或氦气冲洗即可测量铝合金中的Mg、Si,镍合金中的Al以及钢材中的Si、S、P。

 

 

             

 

手持式X荧光光谱仪优点

 

 无损、定量分析

 快速、便携、可靠

 能够分析S、P、Al, Mg, Si

 可编辑用户数据库

 测量元素范围可低至Mg(12)

 微软实时系统(MS CE)软件提供图谱分析

 高灵敏度,可检测低至PPM的微量元素

 PXRF软件还具有定性和定量分析功能,控制光管的电压和电流,使之适用于大范围的元素测量。

 NASA/Bruker共有-无真空-无氦气消耗,精度可靠

 

功能模块

 

定量分析

牌号识别

混料识别

合格与否判定

图谱显示

 

 

应用领域

 

石油化工

航空航天

军工

钢铁

电站电厂

锅炉压力容器

机械制造与加工

金属回收与分类

贵金属

矿石/土壤/玩具/RoHS

 

  

 

 

 

技术规格

重量

1.5kg

尺寸

30cm(L)x 10cm(W)x 28cm(H)

激发源

X射线管,Ag靶,40kV

检测器

XFlash®硅漂移检测器(SDD), 检测速度快;

能量分辨率高:145eV, 计数率:100 kcps 

操作系统

HP掌上电脑:Windows 5.0

Bruker 专用软件

冷却系统

Peltier 半导体冷却系统

电源

交、直流供电;2块充电锂电池,可连续工作8-12小时

环境条件

温度范围:-20℃~+55℃;湿度范围:0~95%

电池充电器

交流充电器:110/220V,50/60Hz

计算机/显示器

240x320彩显; 65,536像素; 背景光可调; 触摸屏

测量模式

牌号识别、定量分析、显示测量谱线、合格与否判定

数据传输

USB,无线蓝牙,SD卡

数据存储

主机:512MB

存储卡:CF/SD卡,2GB,能存储几十万个牌号和测量数据

安全

密码保护,设有多级安全锁

运输箱

减震、抗压、防水、密封仪器箱

支持语言

包括中、英文在内的12种语言(用户自选)

质保期

获得证书

整机2年

CE、TUV、ISO9001、IECEE

 

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