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残余应力测定仪的基本原理
发布时间:2017-12-19   点击次数:459次
 残余应力测定仪的基本原理:  
    残余应力测定仪的基本原理是以测量衍射线位移作为原始数据,所测得的结果实际上是残余应变,而残余应力是通过胡克定律由残余应变计算得到的。  
    其基本原理是:当试样中存在残余应力时,晶面间距将发生变化,发生布拉格衍射时,产生的衍射峰也将随之移动,而且移动距离的大小与应力大小相关。用波长λ的X射线,先后数次以不同的入射角照射到试样上,测出相应的衍射角2θ,求出2θ对sin2ψ的斜率M,便可算出应力σψ。  
    X射线衍射方法主要是测试沿试样表面某一方向上的内应力σφ。为此需利用弹性力学理论求出σφ的表达式。由于X射线对试样的穿入能力有限,只能探测试样的表层应力,这种表层应力分布可视为二维应力状态,其垂直试样的主应力σ3≈0(该方向的主应变ε3≠0)。

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